Arthur Yelon
, Alain Rochefort, S. Sheng et Edward Sacher
Article de revue (2003)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/25390/ |
| Titre de la revue: | Solar Energy Materials and Solar Cells (vol. 78, no 1-4) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/s0927-0248(02)00444-0 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/s0927-0248%2802%2900444-0 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:20 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:05 |
| Citer en APA 7: | Yelon, A., Rochefort, A., Sheng, S., & Sacher, E. (2003). Irradiation-induced structural changes in hydrogenated amorphous silicon as measured by X-ray photoemission spectroscopy. Solar Energy Materials and Solar Cells, 78(1-4), 391-398. https://doi.org/10.1016/s0927-0248%2802%2900444-0 |
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