Article de revue (2004)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/24848/ |
| Titre de la revue: | IEEE Microwave and Wireless Components Letters (vol. 14, no 4) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/lmwc.2003.819375 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/lmwc.2003.819375 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:19 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:10 |
| Citer en APA 7: | Li, L., & Wu, K. (2004). Numerical through-resistor (TR) calibration technique for modeling of microwave integrated circuits. IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 14(4), 139-141. https://doi.org/10.1109/lmwc.2003.819375 |
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