Article de revue (2004)
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Titre de la revue
:
IEEE Microwave and Wireless Components Letters
(
vol.
14
,
no
4
)
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:24848
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:19
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:59
Citer en APA 7:
Li, L., & Wu, K. (2004). Numerical through-resistor (TR) calibration technique for modeling of microwave integrated circuits. IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 14(4), 139-141. https://doi.org/10.1109/lmwc.2003.819375
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