Article de revue (2004)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/24848/ |
| Titre de la revue: | IEEE Microwave and Wireless Components Letters (vol. 14, no 4) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/lmwc.2003.819375 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/lmwc.2003.819375 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:19 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 02:13 |
| Citer en APA 7: | Li, L., & Wu, K. (2004). Numerical through-resistor (TR) calibration technique for modeling of microwave integrated circuits. IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 14(4), 139-141. https://doi.org/10.1109/lmwc.2003.819375 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
