R. Chebli, Mohamad Sawan
et Yvon Savaria
Communication écrite (2005)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/24293/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2005) |
| Lieu de la conférence: | Tunisie |
| Date(s) de la conférence: | 2005-12-11 - 2005-12-14 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/icecs.2005.4633435 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icecs.2005.4633435 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:04 |
| Citer en APA 7: | Chebli, R., Sawan, M., & Savaria, Y. (décembre 2005). Gate oxide protection in HV CMOS/DMOS integrated circuits: Design and experimental results [Communication écrite]. IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2005), Tunisie. https://doi.org/10.1109/icecs.2005.4633435 |
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