Fabio Cicoira, P. Hoffmann, C. O. A. Olsson, N. Xanthopoulos, H. J. Mathieu et P. Doppelt
Article de revue (2005)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
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Titre de la revue: | Applied Surface Science (vol. 242, no 1-2) |
Maison d'édition: | Elsevier |
DOI: | 10.1016/j.apsusc.2004.08.005 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.08.005 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:04 |
Citer en APA 7: | Cicoira, F., Hoffmann, P., Olsson, C. O. A., Xanthopoulos, N., Mathieu, H. J., & Doppelt, P. (2005). Auger electron spectroscopy analysis of high metal content micro-structures grown by electron beam induced deposition. Applied Surface Science, 242(1-2), 107-113. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.08.005 |
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