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Auger electron spectroscopy analysis of high metal content micro-structures grown by electron beam induced deposition

Fabio Cicoira, P. Hoffmann, C. O. A. Olsson, N. Xanthopoulos, H. J. Mathieu et P. Doppelt

Article de revue (2005)

Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal

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URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/24267/
Titre de la revue: Applied Surface Science (vol. 242, no 1-2)
Maison d'édition: Elsevier
DOI: 10.1016/j.apsusc.2004.08.005
URL officielle: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.08.005
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:18
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:04
Citer en APA 7: Cicoira, F., Hoffmann, P., Olsson, C. O. A., Xanthopoulos, N., Mathieu, H. J., & Doppelt, P. (2005). Auger electron spectroscopy analysis of high metal content micro-structures grown by electron beam induced deposition. Applied Surface Science, 242(1-2), 107-113. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.08.005

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