Kate Kaminska, Aram Amassian, Ludvik Martinu
et Kevin Robbie
Article de revue (2005)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| Centre de recherche: | RQMP - Regroupement québécois sur les matériaux de pointe |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/24008/ |
| Titre de la revue: | Journal of Applied Physics (vol. 97, no 1) |
| Maison d'édition: | American Institute of Physics |
| DOI: | 10.1063/1.1823029 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1063/1.1823029 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
| Dernière modification: | 26 sept. 2024 11:54 |
| Citer en APA 7: | Kaminska, K., Amassian, A., Martinu, L., & Robbie, K. (2005). Growth of vacuum evaporated ultraporous silicon studied with spectroscopic ellipsometry and scanning electron microscopy. Journal of Applied Physics, 97(1). https://doi.org/10.1063/1.1823029 |
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