Michelle L. La Haye, Glenn H. Chapman, Cory Jung, Desmond Y. H. Cheung, Sunjaya Djaja et Yves Audet
Communication écrite (2023)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/23988/ |
Nom de la conférence: | Sensors and camera systems for scientific and industrial applications VI |
Lieu de la conférence: | San Jose, CA |
Date(s) de la conférence: | 2023-01-16 - 2023-01-20 |
Maison d'édition: | SPIE |
DOI: | 10.1117/12.588041 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1117/12.588041 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:03 |
Citer en APA 7: | La Haye, M. L., Chapman, G. H., Jung, C., Cheung, D. Y. H., Djaja, S., & Audet, Y. (janvier 2023). Fault-tolerant photodiode and photogate active pixel sensors [Communication écrite]. Sensors and camera systems for scientific and industrial applications VI, San Jose, CA (12 pages). https://doi.org/10.1117/12.588041 |
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