Michelle L. La Haye, Glenn H. Chapman, Cory Jung, Desmond Y. H. Cheung, Sunjaya Djaja et Yves Audet
Communication écrite (2023)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| ISBN: | 0819456500 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/23988/ |
| Nom de la conférence: | Sensors and camera systems for scientific and industrial applications VI |
| Lieu de la conférence: | San Jose, CA |
| Date(s) de la conférence: | 2023-01-16 - 2023-01-20 |
| Maison d'édition: | SPIE |
| DOI: | 10.1117/12.588041 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1117/12.588041 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:03 |
| Citer en APA 7: | La Haye, M. L., Chapman, G. H., Jung, C., Cheung, D. Y. H., Djaja, S., & Audet, Y. (janvier 2023). Fault-tolerant photodiode and photogate active pixel sensors [Communication écrite]. Sensors and camera systems for scientific and industrial applications VI, San Jose, CA (12 pages). https://doi.org/10.1117/12.588041 |
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