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Fault-tolerant photodiode and photogate active pixel sensors

Michelle L. La Haye, Glenn H. Chapman, Cory Jung, Desmond Y. H. Cheung, Sunjaya Djaja et Yves Audet

Communication écrite (2023)

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Département: Département de génie électrique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/23988/
Nom de la conférence: Sensors and camera systems for scientific and industrial applications VI
Lieu de la conférence: San Jose, CA
Date(s) de la conférence: 2023-01-16 - 2023-01-20
Maison d'édition: SPIE
DOI: 10.1117/12.588041
URL officielle: https://doi.org/10.1117/12.588041
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:18
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:03
Citer en APA 7: La Haye, M. L., Chapman, G. H., Jung, C., Cheung, D. Y. H., Djaja, S., & Audet, Y. (janvier 2023). Fault-tolerant photodiode and photogate active pixel sensors [Communication écrite]. Sensors and camera systems for scientific and industrial applications VI, San Jose, CA (12 pages). https://doi.org/10.1117/12.588041

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