Article de revue (2005)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/23932/ |
Titre de la revue: | IEEE Microwave and Wireless Components Letters (vol. 15, no 12) |
Maison d'édition: | IEEE |
DOI: | 10.1109/lmwc.2005.859978 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/lmwc.2005.859978 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:09 |
Citer en APA 7: | Li, L., & Wu, K. (2005). Multiport through-resistor (TR) numerical calibration. IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 15(12), 883-885. https://doi.org/10.1109/lmwc.2005.859978 |
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