Article de revue (2005)
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Titre de la revue
:
IEEE Microwave and Wireless Components Letters
(
vol.
15
,
no
12
)
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:23932
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:18
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:57
Citer en APA 7:
Li, L., & Wu, K. (2005). Multiport through-resistor (TR) numerical calibration. IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 15(12), 883-885. https://doi.org/10.1109/lmwc.2005.859978
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