Article de revue (2005)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/23932/ |
| Titre de la revue: | IEEE Microwave and Wireless Components Letters (vol. 15, no 12) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/lmwc.2005.859978 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/lmwc.2005.859978 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:03 |
| Citer en APA 7: | Li, L., & Wu, K. (2005). Multiport through-resistor (TR) numerical calibration. IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 15(12), 883-885. https://doi.org/10.1109/lmwc.2005.859978 |
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