P. Jedrzejowski, A. Amassian, Étienne Bousser, Jolanta-Ewa Sapieha
, Ludvik Martinu
Article de revue (2006)
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Titre de la revue
:
Applied Physics Letters
(
vol.
88
,
no
7
)
Maison d'édition:
American Institute of Physics
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:22942
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:17
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:56
Citer en APA 7:
Jedrzejowski, P., Amassian, A., Bousser, É., Sapieha, J.-E., & Martinu, L. (2006). Real-time in situ growth study of TiN- and TiCₓNy-based superhard nanocomposite coatings using spectroscopic ellipsometry. Applied Physics Letters, 88(7), 71915-1. https://doi.org/10.1063/1.2173719
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