P. Jedrzejowski, A. Amassian, E. Bousser, Jolanta-Ewa Sapieha
et Ludvik Martinu
Article de revue (2006)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/22942/ |
| Titre de la revue: | Applied Physics Letters (vol. 88, no 7) |
| Maison d'édition: | American Institute of Physics |
| DOI: | 10.1063/1.2173719 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1063/1.2173719 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:17 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:02 |
| Citer en APA 7: | Jedrzejowski, P., Amassian, A., Bousser, E., Sapieha, J.-E., & Martinu, L. (2006). Real-time in situ growth study of TiN- and TiCₓNy-based superhard nanocomposite coatings using spectroscopic ellipsometry. Applied Physics Letters, 88(7), 71915-1. https://doi.org/10.1063/1.2173719 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
