M. Morneau et Abdelhakim Khouas
Article de revue (2006)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/22720/ |
Titre de la revue: | Journal of Electronic Testing-Theory and Applications (vol. 22, no 4-6) |
Maison d'édition: | Springer |
DOI: | 10.1007/s10836-006-9502-x |
URL officielle: | https://doi.org/10.1007/s10836-006-9502-x |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:17 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:01 |
Citer en APA 7: | Morneau, M., & Khouas, A. (2006). TBSA: Threshold-Based Simulation Accuracy Method for Fast Analog Dc Fault Simulation. Journal of Electronic Testing-Theory and Applications, 22(4-6), 425-436. https://doi.org/10.1007/s10836-006-9502-x |
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