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TBSA: Threshold-Based Simulation Accuracy Method for Fast Analog Dc Fault Simulation

M. Morneau et Abdelhakim Khouas

Article de revue (2006)

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Département: Département de génie électrique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/22720/
Titre de la revue: Journal of Electronic Testing-Theory and Applications (vol. 22, no 4-6)
Maison d'édition: Springer
DOI: 10.1007/s10836-006-9502-x
URL officielle: https://doi.org/10.1007/s10836-006-9502-x
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:17
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:01
Citer en APA 7: Morneau, M., & Khouas, A. (2006). TBSA: Threshold-Based Simulation Accuracy Method for Fast Analog Dc Fault Simulation. Journal of Electronic Testing-Theory and Applications, 22(4-6), 425-436. https://doi.org/10.1007/s10836-006-9502-x

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