Article de revue (2006)
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Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Journal of Electronic Testing-Theory and Applications
(
vol.
22
,
no
4-6
)
Maison d'édition:
Springer
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:22720
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:17
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:55
Citer en APA 7:
Morneau, M., & Khouas, A. (2006). TBSA: Threshold-Based Simulation Accuracy Method for Fast Analog Dc Fault Simulation. Journal of Electronic Testing-Theory and Applications, 22(4-6), 425-436. https://doi.org/10.1007/s10836-006-9502-x
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