W. Knaepen, Simon Gaudet, C. Detavernier, R. L. Van Meirhaeghe, J. J. Sweet, C. Lavoie
Article de revue (2009)
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Département:
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Titre de la revue
:
Journal of Applied Physics
(
vol.
105
,
no
8
)
Maison d'édition:
American Institute of Physics
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:19383
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:14
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:22
Citer en APA 7:
Knaepen, W., Gaudet, S., Detavernier, C., Van Meirhaeghe, R. L., Sweet, J. J., & Lavoie, C. (2009). In situ x-ray diffraction study of metal induced crystallization of amorphous germanium. Journal of Applied Physics, 105(8), 083532-083532. https://doi.org/10.1063/1.3110722
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