W. Knaepen, Simon Gaudet, C. Detavernier, R. L. Van Meirhaeghe, J. J. Sweet et C. Lavoie
Article de revue (2009)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/19383/ |
| Titre de la revue: | Journal of Applied Physics (vol. 105, no 8) |
| Maison d'édition: | American Institute of Physics |
| DOI: | 10.1063/1.3110722 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1063/1.3110722 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:14 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:01 |
| Citer en APA 7: | Knaepen, W., Gaudet, S., Detavernier, C., Van Meirhaeghe, R. L., Sweet, J. J., & Lavoie, C. (2009). In situ x-ray diffraction study of metal induced crystallization of amorphous germanium. Journal of Applied Physics, 105(8), 083532-083532. https://doi.org/10.1063/1.3110722 |
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