Aziz Berchtikou, Joel Lavoie, Viorel Poenariu, Bachir Saoudi, Raman Kashyap
et Michael R. Wertheimer
Article de revue (2011)
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie physique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/17221/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation (vol. 18, no 1) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/tdei.2011.5704489 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tdei.2011.5704489 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:11 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:58 |
| Citer en APA 7: | Berchtikou, A., Lavoie, J., Poenariu, V., Saoudi, B., Kashyap, R., & Wertheimer, M. R. (2011). Thermometry in noble gas dielectric barrier discharges at atmospheric pressure using optical emission spectroscopy. IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, 18(1), 24-33. https://doi.org/10.1109/tdei.2011.5704489 |
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