E. Boulais, J. Fantoni, A. Chateauneuf, Yvon Savaria
et Michel Meunier
Article de revue (2011)
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| Département: |
Département de génie physique Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/17164/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Electron Devices (vol. 58, no 2) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/ted.2010.2093770 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/ted.2010.2093770 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:11 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:58 |
| Citer en APA 7: | Boulais, E., Fantoni, J., Chateauneuf, A., Savaria, Y., & Meunier, M. (2011). Laser-induced resistance fine tuning of integrated polysilicon thin-film resistors. IEEE Transactions on Electron Devices, 58(2), 572-575. https://doi.org/10.1109/ted.2010.2093770 |
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