Étienne Boulais, J. Fantoni, A. Chateauneuf, Yvon Savaria
, Michel Meunier
Article de revue (2011)
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Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Electron Devices
(
vol.
58
,
no
2
)
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:17164
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:11
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:19
Citer en APA 7:
Boulais, É., Fantoni, J., Chateauneuf, A., Savaria, Y., & Meunier, M. (2011). Laser-induced resistance fine tuning of integrated polysilicon thin-film resistors. IEEE Transactions on Electron Devices, 58(2), 572-575. https://doi.org/10.1109/ted.2010.2093770
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