Nicolas Laflamme-Mayer, Yves Blaquière et Mohamad Sawan
Communication écrite (2011)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
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Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/16637/ |
Nom de la conférence: | 18th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2011) |
Lieu de la conférence: | Beirut, Lebanon |
Date(s) de la conférence: | 2011-12-11 - 2011-12-14 |
Maison d'édition: | IEEE Computer Society |
DOI: | 10.1109/icecs.2011.6122205 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icecs.2011.6122205 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:12 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:54 |
Citer en APA 7: | Laflamme-Mayer, N., Blaquière, Y., & Sawan, M. (décembre 2011). A large range and fine tuning configurable Bandgap reference dedicated to wafer-scale systems [Communication écrite]. 18th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2011), Beirut, Lebanon. https://doi.org/10.1109/icecs.2011.6122205 |
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