Nicolas Laflamme-Mayer, Yves Blaquière et Mohamad Sawan
Communication écrite (2011)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| ISBN: | 9781457718441 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/16637/ |
| Nom de la conférence: | 18th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2011) |
| Lieu de la conférence: | Beirut, Lebanon |
| Date(s) de la conférence: | 2011-12-11 - 2011-12-14 |
| Maison d'édition: | IEEE Computer Society |
| DOI: | 10.1109/icecs.2011.6122205 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icecs.2011.6122205 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:12 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 12:19 |
| Citer en APA 7: | Laflamme-Mayer, N., Blaquière, Y., & Sawan, M. (décembre 2011). A large range and fine tuning configurable Bandgap reference dedicated to wafer-scale systems [Communication écrite]. 18th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2011), Beirut, Lebanon. https://doi.org/10.1109/icecs.2011.6122205 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
