Optimization of the process control in a semiconductor company, model and case study of defectivity sampling

M. Shanoun, Samuel Bassetto, S. Bastoini et P. Vialetelle

Article de revue (2011)

Un lien externe est disponible pour ce document

Département:	Département de mathématiques et de génie industriel
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/16176/
Titre de la revue:	International Journal of Production Research (vol. 49, no 13)
Maison d'édition:	Taylor & Francis
DOI:	10.1080/00207543.2010.484429
URL officielle:	https://doi.org/10.1080/00207543.2010.484429
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:12
Dernière modification:	25 sept. 2024 15:53

Citer en APA 7:	Shanoun, M., Bassetto, S., Bastoini, S., & Vialetelle, P. (2011). Optimization of the process control in a semiconductor company, model and case study of defectivity sampling. International Journal of Production Research, 49(13), 3873-3890. https://doi.org/10.1080/00207543.2010.484429
APA 7 (HTML)ASCII CitationAtomBibTeXDOIsDublin CoreEndNote (.ENW)MARC (ISO 2709/UTF-8) (.MRC)MARC (UTF-8) (.MRK8)MARC XMLMPEG-21 DIDLMultiline CSVOAI-ORE Resource Map (Atom Format)OPENAIREOpenURL ContextObjectOpenURL ContextObject in SpanRDF+N-TriplesRDF+N3RDF+XMLReferReference Manager (.RIS)Répertoire des publications (EndNote)Simple Metadata

Statistiques

Actions réservées au personnel