Zaid Al-Bayati, O. Ait Mohamed, Yvon Savaria et Mounir Boukadoum
Communication écrite (2012)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
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Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/15911/ |
Nom de la conférence: | 10th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2012) |
Lieu de la conférence: | Montréal, Québec |
Date(s) de la conférence: | 2012-06-17 - 2012-06-20 |
Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
DOI: | 10.1109/newcas.2012.6328989 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/newcas.2012.6328989 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:10 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:53 |
Citer en APA 7: | Al-Bayati, Z., Ait Mohamed, O., Savaria, Y., & Boukadoum, M. (juin 2012). Probabilistic model checking of clock domain crossing interfaces [Communication écrite]. 10th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2012), Montréal, Québec. https://doi.org/10.1109/newcas.2012.6328989 |
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