Ehsan Kamrani, Frédéric Lesage
et Mohamad Sawan
Communication écrite (2012)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/15202/ |
| Nom de la conférence: | 10th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2012) |
| Lieu de la conférence: | Montréal, Québec |
| Date(s) de la conférence: | 2012-06-17 - 2012-06-20 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/newcas.2012.6329027 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/newcas.2012.6329027 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:11 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:52 |
| Citer en APA 7: | Kamrani, E., Lesage, F., & Sawan, M. (juin 2012). Premature edge breakdown prevention techniques in CMOS APD fabrication [Communication écrite]. 10th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2012), Montréal, Québec. https://doi.org/10.1109/newcas.2012.6329027 |
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