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Premature edge breakdown prevention techniques in CMOS APD fabrication

Ehsan Kamrani, Frédéric Lesage et Mohamad Sawan

Communication écrite (2012)

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Département: Département de génie électrique
Centre de recherche: GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/15202/
Nom de la conférence: 10th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2012)
Lieu de la conférence: Montréal, Québec
Date(s) de la conférence: 2012-06-17 - 2012-06-20
Maison d'édition: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/newcas.2012.6329027
URL officielle: https://doi.org/10.1109/newcas.2012.6329027
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:11
Dernière modification: 05 mai 2023 15:22
Citer en APA 7: Kamrani, E., Lesage, F., & Sawan, M. (juin 2012). Premature edge breakdown prevention techniques in CMOS APD fabrication [Communication écrite]. 10th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2012), Montréal, Québec. https://doi.org/10.1109/newcas.2012.6329027

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