Helgi S. Skulason, Hoang V. Nguyen, A. Guermoune, M. Siaj, Christophe Caloz et Thomas Szkopek
Communication écrite (2012)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/14603/ |
| Nom de la conférence: | IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2012) |
| Lieu de la conférence: | Montréal, Québec |
| Date(s) de la conférence: | 2012-06-17 - 2012-06-22 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/mwsym.2012.6259711 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/mwsym.2012.6259711 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:11 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:51 |
| Citer en APA 7: | Skulason, H. S., Nguyen, H. V., Guermoune, A., Siaj, M., Caloz, C., & Szkopek, T. (juin 2012). Contactless impedance measurement of large-area high-quality graphene [Communication écrite]. IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2012), Montréal, Québec. https://doi.org/10.1109/mwsym.2012.6259711 |
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