H. A. N. Zhang, Stephane Virally, Qiaoliang Bao, Loh Kian Ping, Serge Massar, Nicolas Godbout et Pascal Kockaert
Article de revue (2012)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/14433/ |
Titre de la revue: | Optics Letters (vol. 37, no 11) |
Maison d'édition: | Optical Society of America |
DOI: | 10.1364/ol.37.001856 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1364/ol.37.001856 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:11 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:54 |
Citer en APA 7: | Zhang, H. A. N., Virally, S., Bao, Q., Ping, L. K., Massar, S., Godbout, N., & Kockaert, P. (2012). Z-Scan Measurement of the Nonlinear Refractive Index of Graphene. Optics Letters, 37(11), 1856-1858. https://doi.org/10.1364/ol.37.001856 |
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