F. Fesharaki, Cevdet Akyel et Ke Wu
Article de revue (2013)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/13908/ |
| Titre de la revue: | Electronics Letters (vol. 49, no 3) |
| Maison d'édition: | IET |
| DOI: | 10.1049/el.2012.3988 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1049/el.2012.3988 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:09 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 01:41 |
| Citer en APA 7: | Fesharaki, F., Akyel, C., & Wu, K. (2013). Broadband permittivity measurement of dielectric materials using a discontinuity in a substrate integrated waveguide. Electronics Letters, 49(3), 194-196. https://doi.org/10.1049/el.2012.3988 |
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