F. Fesharaki, Cevdet Akyel, Ke Wu
Article de revue (2013)
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Titre de la revue
:
Electronics Letters
(
vol.
49
,
no
3
)
Maison d'édition:
IET
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:13908
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:09
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:14
Citer en APA 7:
Fesharaki, F., Akyel, C., & Wu, K. (2013). Broadband permittivity measurement of dielectric materials using a discontinuity in a substrate integrated waveguide. Electronics Letters, 49(3), 194-196. https://doi.org/10.1049/el.2012.3988
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