Characterization of substrate material using complementary split ring resonators at terahertz frequencies

X. Zhu, W. Hong, Ke Wu, H. Tang, Z. Hao et H. Zhou

Communication écrite (2013)

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Département:	Département de génie électrique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/12895/
Nom de la conférence:	IEEE International Wireless Symposium (IWS 2013)
Lieu de la conférence:	Beijing, China
Date(s) de la conférence:	2013-04-14 - 2013-04-18
Maison d'édition:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:	10.1109/ieee-iws.2013.6616829
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/ieee-iws.2013.6616829
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:10
Dernière modification:	05 avr. 2024 10:52

Citer en APA 7:	Zhu, X., Hong, W., Wu, K., Tang, H., Hao, Z., & Zhou, H. (avril 2013). Characterization of substrate material using complementary split ring resonators at terahertz frequencies [Communication écrite]. IEEE International Wireless Symposium (IWS 2013), Beijing, China. https://doi.org/10.1109/ieee-iws.2013.6616829
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