Xi-Cheng Zhu, Wei Hong, Ke Wu
, Hongjun Tang, Zhang-Cheng Hao, Hou-Xing Zhou
Communication écrite (2013)
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Département:
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Nom de la conférence:
IEEE International Wireless Symposium (IWS 2013)
Lieu de la conférence:
Beijing, China
Date(s) de la conférence:
2013-04-14 - 2013-04-18
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:12895
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:10
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:13
Citer en APA 7:
Zhu, X.-C., Hong, W., Wu, K., Tang, H., Hao, Z.-C., & Zhou, H.-X. (avril 2013). Characterization of substrate material using complementary split ring resonators at terahertz frequencies [Communication écrite]. IEEE International Wireless Symposium (IWS 2013), Beijing, China. https://doi.org/10.1109/ieee-iws.2013.6616829
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