X. Zhu, W. Hong, Ke Wu, H. Tang, Z. Hao et H. Zhou
Communication écrite (2013)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
---|---|
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/12895/ |
Nom de la conférence: | IEEE International Wireless Symposium (IWS 2013) |
Lieu de la conférence: | Beijing, China |
Date(s) de la conférence: | 2013-04-14 - 2013-04-18 |
Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
DOI: | 10.1109/ieee-iws.2013.6616829 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/ieee-iws.2013.6616829 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:10 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:49 |
Citer en APA 7: | Zhu, X., Hong, W., Wu, K., Tang, H., Hao, Z., & Zhou, H. (avril 2013). Characterization of substrate material using complementary split ring resonators at terahertz frequencies [Communication écrite]. IEEE International Wireless Symposium (IWS 2013), Beijing, China. https://doi.org/10.1109/ieee-iws.2013.6616829 |
---|---|
Statistiques
Dimensions