Xi-Cheng Zhu, Wei Hong, Ke Wu
, Hongjun Tang, Zhang-Cheng Hao et Hou-Xing Zhou
Communication écrite (2013)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/12895/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Wireless Symposium (IWS 2013) |
| Lieu de la conférence: | Beijing, China |
| Date(s) de la conférence: | 2013-04-14 - 2013-04-18 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/ieee-iws.2013.6616829 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/ieee-iws.2013.6616829 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:10 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 12:20 |
| Citer en APA 7: | Zhu, X.-C., Hong, W., Wu, K., Tang, H., Hao, Z.-C., & Zhou, H.-X. (avril 2013). Characterization of substrate material using complementary split ring resonators at terahertz frequencies [Communication écrite]. IEEE International Wireless Symposium (IWS 2013), Beijing, China. https://doi.org/10.1109/ieee-iws.2013.6616829 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
