Belgacem Bettayeb, Samuel Bassetto
Communication écrite (2014)
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Département:
ISBN:
9781479920877
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
8th annual IEEE International Systems Conference on Systems Conference (SysCon 2014)
Lieu de la conférence:
Ottawa, ON
Date(s) de la conférence:
2014-03-31 - 2014-04-03
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:12707
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:07
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:13
Citer en APA 7:
Bettayeb, B., & Bassetto, S. (mars 2014). Effects of process learning and product lifecycle on risk-based quality control plans [Communication écrite]. 8th annual IEEE International Systems Conference on Systems Conference (SysCon 2014), Ottawa, ON. https://doi.org/10.1109/syscon.2014.6819303
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