B. Bettayeb et Samuel Bassetto
Communication écrite (2014)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de mathématiques et de génie industriel |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/12707/ |
| Nom de la conférence: | 8th annual IEEE International Systems Conference on Systems Conference (SysCon 2014) |
| Lieu de la conférence: | Ottawa, ON |
| Date(s) de la conférence: | 2014-03-31 - 2014-04-03 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/syscon.2014.6819303 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/syscon.2014.6819303 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:07 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:52 |
| Citer en APA 7: | Bettayeb, B., & Bassetto, S. (mars 2014). Effects of process learning and product lifecycle on risk-based quality control plans [Communication écrite]. 8th annual IEEE International Systems Conference on Systems Conference (SysCon 2014), Ottawa, ON. https://doi.org/10.1109/syscon.2014.6819303 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
