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Effects of process learning and product lifecycle on risk-based quality control plans

B. Bettayeb et Samuel Bassetto

Communication écrite (2014)

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Département: Département de mathématiques et de génie industriel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/12707/
Nom de la conférence: 8th annual IEEE International Systems Conference on Systems Conference (SysCon 2014)
Lieu de la conférence: Ottawa, ON
Date(s) de la conférence: 2014-03-31 - 2014-04-03
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/syscon.2014.6819303
URL officielle: https://doi.org/10.1109/syscon.2014.6819303
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:07
Dernière modification: 25 sept. 2024 15:49
Citer en APA 7: Bettayeb, B., & Bassetto, S. (mars 2014). Effects of process learning and product lifecycle on risk-based quality control plans [Communication écrite]. 8th annual IEEE International Systems Conference on Systems Conference (SysCon 2014), Ottawa, ON. https://doi.org/10.1109/syscon.2014.6819303

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