B. Bettayeb et Samuel Bassetto
Communication écrite (2014)
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| Département: | Département de mathématiques et de génie industriel |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/12707/ |
| Nom de la conférence: | 8th annual IEEE International Systems Conference on Systems Conference (SysCon 2014) |
| Lieu de la conférence: | Ottawa, ON |
| Date(s) de la conférence: | 2014-03-31 - 2014-04-03 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/syscon.2014.6819303 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/syscon.2014.6819303 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:07 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:49 |
| Citer en APA 7: | Bettayeb, B., & Bassetto, S. (mars 2014). Effects of process learning and product lifecycle on risk-based quality control plans [Communication écrite]. 8th annual IEEE International Systems Conference on Systems Conference (SysCon 2014), Ottawa, ON. https://doi.org/10.1109/syscon.2014.6819303 |
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