Percolation threshold determination of sputtered silver films using Stokes parameters and in situ conductance measurements

Soroush Hafezian, Bill Baloukas et Ludvik Martinu

Article de revue (2014)

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Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/12229/
Titre de la revue:	Applied Optics (vol. 53, no 24)
Maison d'édition:	Optical Society of America (OSA)
DOI:	10.1364/ao.53.005367
URL officielle:	https://doi.org/10.1364/ao.53.005367
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:08
Dernière modification:	05 avr. 2024 10:51

Citer en APA 7:	Hafezian, S., Baloukas, B., & Martinu, L. (2014). Percolation threshold determination of sputtered silver films using Stokes parameters and in situ conductance measurements. Applied Optics, 53(24), 5367-5374. https://doi.org/10.1364/ao.53.005367
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