Soroush Hafezian, Bill Baloukas, Ludvik Martinu
Article de revue (2014)
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Titre de la revue
:
Applied Optics
(
vol.
53
,
no
24
)
Maison d'édition:
Optical Society of America (OSA)
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:12229
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:08
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:12
Citer en APA 7:
Hafezian, S., Baloukas, B., & Martinu, L. (2014). Percolation threshold determination of sputtered silver films using Stokes parameters and in situ conductance measurements. Applied Optics, 53(24), 5367-5374. https://doi.org/10.1364/ao.53.005367
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