Soroush Hafezian, Bill Baloukas et Ludvik Martinu
Article de revue (2014)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| Centre de recherche: | LaRFIS - Laboratoire des Revêtements Fonctionnels et Ingénierie des Surfaces |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/12229/ |
| Titre de la revue: | Applied Optics (vol. 53, no 24) |
| Maison d'édition: | Optical Society of America (OSA) |
| DOI: | 10.1364/ao.53.005367 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1364/ao.53.005367 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:08 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 01:39 |
| Citer en APA 7: | Hafezian, S., Baloukas, B., & Martinu, L. (2014). Percolation threshold determination of sputtered silver films using Stokes parameters and in situ conductance measurements. Applied Optics, 53(24), 5367-5374. https://doi.org/10.1364/ao.53.005367 |
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