S. Pochet, Alberto Teyssedou
et Cevdet Akyel
Article de revue (2014)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/11723/ |
| Titre de la revue: | Review of Scientific Instruments (vol. 85, no 1) |
| Maison d'édition: | American Institute of Physics |
| DOI: | 10.1063/1.4859498 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1063/1.4859498 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:08 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:48 |
| Citer en APA 7: | Pochet, S., Teyssedou, A., & Akyel, C. (2014). Development and assessment of a microwave void-fraction measurement system. Review of Scientific Instruments, 85(1), 015103. https://doi.org/10.1063/1.4859498 |
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