Development and assessment of a microwave void-fraction measurement system

S. Pochet, Alberto Teyssedou, Cevdet Akyel

Article de revue (2014)

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Titre de la revue :
Review of Scientific Instruments ( vol. 85 , no 1 )
Maison d'édition:
American Institute of Physics
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:11723
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:08
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:11
Citer en APA 7:
Pochet, S., Teyssedou, A., & Akyel, C. (2014). Development and assessment of a microwave void-fraction measurement system. Review of Scientific Instruments, 85(1), 015103. https://doi.org/10.1063/1.4859498

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