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Lindenberg, A. M., Engemann, S., Gaffney, K. J., Sokolowski-Tinten, K., Larsson, J., Reis, D., Lorazo, P., & Hastings, J. B. (avril 2008). Femtosecond x-ray diffuse scattering measurements of semiconductor ablation dynamics [Communication écrite]. High-Power Laser Ablation VII, Taos, NM, United states. Lien externe
