A. M. Lindenberg, S. Engemann, K. J. Gaffney, K. Sokolowski-Tinten, J. Larsson, D. Reis, Patrick Lorazo et J. B. Hastings
Communication écrite (2008)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/20532/ |
| Nom de la conférence: | High-Power Laser Ablation VII |
| Lieu de la conférence: | Taos, NM, United states |
| Date(s) de la conférence: | 2008-04-20 - 2008-04-24 |
| Maison d'édition: | SPIE |
| DOI: | 10.1117/12.784094 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1117/12.784094 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:16 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:03 |
| Citer en APA 7: | Lindenberg, A. M., Engemann, S., Gaffney, K. J., Sokolowski-Tinten, K., Larsson, J., Reis, D., Lorazo, P., & Hastings, J. B. (avril 2008). Femtosecond x-ray diffuse scattering measurements of semiconductor ablation dynamics [Communication écrite]. High-Power Laser Ablation VII, Taos, NM, United states. https://doi.org/10.1117/12.784094 |
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