Aaron M. Lindenberg, S. Engemann, Kelly J. Gaffney, K. Sokolowski-Tinten, Jörgen Larsson, D. Reis, Patrick Lorazo, J. B. Hastings
Communication écrite (2008)
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Nom de la conférence:
High-Power Laser Ablation VII
Lieu de la conférence:
Taos, NM, United states
Date(s) de la conférence:
2008-04-20 - 2008-04-24
Maison d'édition:
SPIE
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URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:20532
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:16
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:52
Citer en APA 7:
Lindenberg, A. M., Engemann, S., Gaffney, K. J., Sokolowski-Tinten, K., Larsson, J., Reis, D., Lorazo, P., & Hastings, J. B. (avril 2008). Femtosecond x-ray diffuse scattering measurements of semiconductor ablation dynamics [Communication écrite]. High-Power Laser Ablation VII, Taos, NM, United states. https://doi.org/10.1117/12.784094
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