Documents publiés en "2007"

Département de génie électrique

Abderrahman, A., Savaria, Y., Khouas, A., & Sawan, M. (août 2007). Accurate testability analysis based-on multi-frequency test generation and a new testability metric [Communication écrite]. IEEE Northeast Workshop on Circuits and Systems (NEWCAS 2007), Montréal, Québec. Lien externe

Abderrahman, A., Savaria, Y., Khouas, A., & Sawan, M. (décembre 2007). New Analog Test Metrics Based on Probabilistic and Deterministic Combination Approaches [Communication écrite]. 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems, Marrakech, Morocco. Lien externe