 | Monter d'un niveau |
Antaki, B. (1999). Étude de la défaillance des circuits bipolaires en mode courant et leur testabilité [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Disponible
Antaki, B., Savaria, Y., Adham, S., Xiong, N., Borrione, D., & Ernst, R. (mars 1999). Design for testability method for CML digital circuits [Communication écrite]. Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 1999), Munich, Germany. Lien externe
