 | Monter d'un niveau |
Blaquière, Y., Dagenais, M., & Savaria, Y. (juin 1991). Fast timing analysis of VLSI circuits: a dynamic and hierarchical approach [Communication écrite]. International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1991), Singapore. Lien externe
Savaria, Y., Youssef, M., Kamińska, B., & Koudil, M. (juin 1991). Automatic test point insertion for pseudo-random testing [Communication écrite]. International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1991), Singapore. Lien externe
