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Réseau de collaborationCe graphique trace les liens entre tous les collaborateurs des publications de {} figurant sur cette page.
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Avila, P. R. T., Zabeida, O., Varela, L. B., Sapieha, J.-E., & Martinu, L. (2023). In-situ monitoring of stress evolution in high power impulse magnetron sputtering-deposited Ti-Al-N films: Effect of substrate bias and temperature. Thin Solid Films, 784, 140069 (13 pages). Lien externe
Varela, L. B., Tavares Avila, P. R., Miletic, A., Bousser, E., Mendez, J. M., Sapieha, J.-E., & Martinu, L. (2024). Residual stress depth profiles self-developed in cathodic arc deposited Ti-Al-N coatings prepared at different constant substrate bias values. Journal of Vacuum Science & Technology A, 42(4), 043104 (22 pages). Lien externe
