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Documents dont l'auteur est "Okoniewski, A. M."

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Okoniewski, A. M., & Yelon, A. (1988). Investigation of intrinsic crystalline Si(111) and amorphous silicon surfaces in air with STM. Journal of Microscopy, 152(2), 481-486. Lien externe

Okoniewski, A. M., Tannous, C., & Yelon, A. (novembre 1986). Small polaron transport in thin films of SiNniH [Communication écrite]. Conference on Electrical Insulation & Dielectric Phenomena, Claymont, DE, USA. Lien externe

Liste produite: Fri Dec 5 03:23:26 2025 EST.