Investigation of intrinsic crystalline Si(111) and amorphous silicon surfaces in air with STM

Okoniewski, A. M.; Yelon, Arthur; Okoniewski, A. M.; Yelon, Arthur

Investigation of intrinsic crystalline Si(111) and amorphous silicon surfaces in air with STM

A. M. Okoniewski, Arthur Yelon

Article de revue (1988)

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Mots clés

Département:

Département de génie physique

Unité de recherche:

GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces

Adresse URL de PolyPublie:

https://publications.polymtl.ca/69819/

Titre de la revue :

Journal of Microscopy ( vol. 152 , no 2 )

Maison d'édition:

Wiley

DOI:

10.1111/j.1365-2818.1988.tb01411.x

URL officielle:

https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.1988.tb01411.x

OAI:

oai:publications.polymtl.ca:69819

ORCID

Date du dépôt:

24 nov. 2025 10:21

Dernière modification:

14 oct. 2026 14:30

Citer en APA 7:

Okoniewski, A. M., & Yelon, A. (1988). Investigation of intrinsic crystalline Si(111) and amorphous silicon surfaces in air with STM. Journal of Microscopy, 152(2), 481-486. https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.1988.tb01411.x

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