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Un nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur B. Nicolescu. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Nicolescu, B., Ignat, N., Savaria, Y., & Nicolescu, G. (2006). Analysis of real-time systems sensitivity to transient faults using MicroC kernel. IEEE Transactions on Nuclear Science, 53(4), 1902-1909. Lien externe
Ignat, N., Nicolescu, B., Savaria, Y., & Nicolescu, G. Soft-Error Classification and Impact Analysis on Real-Time Operating Systems [Communication écrite]. Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 2006). Lien externe
Nicolescu, B., Ignat, N., Savaria, Y., & Nicolescu, G. (septembre 2005). Sensitivity of real-time operating systems to transient faults : A cause study for microC kernel [Communication écrite]. 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS 2005). Lien externe
Nicolescu, B., Savaria, Y., & Velazco, R. (2004). Software detection mechanisms providing full coverage against single bit-flip faults. IEEE Transactions on Nuclear Science, 51(6), 3510-3518. Lien externe
Nicolescu, B., Gorse, N., Savaria, Y., Aboulhamid, E. M., & Velazco, R. (septembre 2004). Validating a dynamic signature monitoring approach using the LTL model checking technique [Communication écrite]. Workshop on Radiation Effects on Components and Systems (RADECS 2004), Madrid, Espagne. Non disponible
Nicolescu, B., Perronnard, P., Velazco, R., & Savaria, Y. (novembre 2003). Efficiency of transient bit-flips detection by software means a complete study [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Cambridge, MA, USA. Lien externe
Nicolescu, B., Savaria, Y., & Velazco, R. (novembre 2003). SIED: software implemented error detection [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Boston, MA, United states. Lien externe