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Nuage de motsUn nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur {}. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Abbott, B. P., Abbott, R., Abbott, T. D., Abraham, S., Acernese, F., Ackley, K., Adams, C., Adya, V. B., Affeldt, C., Agathos, M., Agatsuma, K., Aggarwal, N., Aguiar, O. D., Aiello, L., Ain, A., Ajith, P., Allen, B., Allocca, A., Aloy, M. Á., ... Zweizig, J. (2020). Model comparison from LIGO–Virgo data on GW170817's binary components and consequences for the merger remnant. Classical and Quantum Gravity, 37(4), 045006 (43 pages). Lien externe
Assali, S., Bergamaschini, R., Scalise, E., Verheijen, M. A., Albani, M., Dijkstra, A., Li, A., Koelling, S., Bakkers, E. P. A. M., Montalenti, F., & Miglio, L. (2020). Kinetic Control of Morphology and Composition in Ge/GeSn Core/Shell Nanowires. ACS Nano, 14(2), 2445-2455. Lien externe
Koelling, S., Plantenga, R. C., Ikaros T. Hauge, H., Ren, Y., Li, A., Verheijen, M. A., Conesa-Boj, S., Assali, S., Koenraad, P. M., & A. M. Bakkers, E. P. (2016). Impurity and Defect Monitoring in Hexagonal Si and SiGe Nanocrystals. ECS Meeting Abstracts, MA2016-02(30), 1949-1949. Lien externe
Koelling, S., Plantenga, R. C., Hauge, H. I. T., Ren, Y., Li, A., Verheijen, M. A., Conesa Boj, S., Assali, S., Koenraad, P. M., & Bakkers, E. P. A. M. (octobre 2016). Impurity and defect monitoring in hexagonal Si and SiGe nanocrystals [Communication écrite]. Symposium on SiGe, Ge, and Related Materials: Materials, Processing, and Devices 7 (PRiME 2016)/230th ECS Meeting, Honolulu, HI. Publié dans ECS Transactions, 75(8). Lien externe
