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Documents dont l'auteur est "Alford, N. M."

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Lei, D. Y., Kéna-Cohen, S., Zou, B., Petrov, P. K., Sonnefraud, Y., Breeze, J., Maier, S. A., & Alford, N. M. (2012). Spectroscopic ellipsometry as an optical probe of strain evolution in ferroelectric thin films. Optics Express, 20(4), 4419-4427. Lien externe

Liste produite: Thu Apr 18 04:50:14 2024 EDT.
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