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Spectroscopic ellipsometry as an optical probe of strain evolution in ferroelectric thin films

D. Y. Lei, Stéphane Kéna-Cohen, B. Zou, P. K. Petrov, Y. Sonnefraud, J. Breeze, S. A. Maier et N. M. Alford

Article de revue (2012)

Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal

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URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/15094/
Titre de la revue: Optics Express (vol. 20, no 4)
Maison d'édition: Optical Society of America
DOI: 10.1364/oe.20.004419
URL officielle: https://doi.org/10.1364/oe.20.004419
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:11
Dernière modification: 05 mai 2023 15:22
Citer en APA 7: Lei, D. Y., Kéna-Cohen, S., Zou, B., Petrov, P. K., Sonnefraud, Y., Breeze, J., Maier, S. A., & Alford, N. M. (2012). Spectroscopic ellipsometry as an optical probe of strain evolution in ferroelectric thin films. Optics Express, 20(4), 4419-4427. https://doi.org/10.1364/oe.20.004419

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