D. Y. Lei, Stéphane Kéna-Cohen
, B. Zou, P. K. Petrov, Y. Sonnefraud, J. Breeze, S. A. Maier, N. M. Alford
Article de revue (2012)
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Titre de la revue
:
Optics Express
(
vol.
20
,
no
4
)
Maison d'édition:
Optical Society of America
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:15094
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:11
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:16
Citer en APA 7:
Lei, D. Y., Kéna-Cohen, S., Zou, B., Petrov, P. K., Sonnefraud, Y., Breeze, J., Maier, S. A., & Alford, N. M. (2012). Spectroscopic ellipsometry as an optical probe of strain evolution in ferroelectric thin films. Optics Express, 20(4), 4419-4427. https://doi.org/10.1364/oe.20.004419
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