Documents dont l'auteur est "École Polytechnique (Montréal, Québec). Département de génie électrique (1958-1990)"

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A

Audet, D., Chouinard, G., Cyr, C., Houle, J.-L., & Savaria, Y. (1988). IMAGE2 : un circuit multiprocesseur pour le traitement parallèle. (Rapport technique n° EPM-RT-88-35). Accès restreint

D

De Santis, R. M., Quintal, M., & Serfass, C. (1989). Contrôle de systèmes robotiques. (Rapport technique n° EP-R-88-26). Disponible

G

Ghannouchi, F. M., & Bosisio, R. (1986). Calibration and measurement of six-port reflectometer using a matrix approach. Part I, Theory. (Rapport technique n° EPM-RT-86-46). Disponible

Ghannouchi, F. M., & Bosisio, R. (1986). Calibration and measurement of six-port reflectometer using a matrix approach. Part II, Description and performance. (Rapport technique n° EPM-RT-86-47). Disponible

Ghannouchi, F. M., & Bosisio, R. G. (1986). Calibration and measurement of six-port reflectometer using a matrix approach. Part III. (Rapport technique n° EPM-RT-86-48). Disponible

L

Lam, H. T., & Bosisio, R. (1987). Dielectric measurements using the reflection method. (Rapport technique n° EPM-RT-87-24). Accès restreint

Lam, H. T. (1987). Dielectric measurements using the reflection method. (Rapport technique n° EPM-RT-87-47). Accès restreint

M

Mychaltchouk, P., & Bernard, J.-C. (1987). Outils de deuxième génération pour systèmes experts : Rule Master et OPS83. (Rapport technique n° EPM-RT-87-25). Accès restreint

Mychaltchouk, P., & Bernard, J.-C. (1987). Projet OSE (Olympic Stadium expert system) : rapport d'avancement. (Rapport technique n° EPM-RT-87-29). Accès restreint

Monté-Genest, G., & Plamondon, R. (1985). Emulateur de terminal synchrone de type IBM 3780/2780 : (rapport détaillé). (Rapport technique n° EPM-RT-85-33). Accès restreint

P

Piedboeuf, J.-C., & Hurteau, R. (1989). Non-linear models of a two degrees-of-freedom one link flexible arm. (Rapport technique n° EPM-RT-89-06). Disponible

Pau, P.-Y., & Haccoun, D. (1985). An analysis of sequential decoding with retransmission procedures. (Rapport technique n° EPM-RT-85-19). Disponible

T

Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J.-L. (1990). Equivalence proofs of some yield modeling methods for defect-tolerant integrated circuits. (Rapport technique n° EPM-RT-90-11). Accès restreint

Turgeon, A. B., & Vu, Q. T. (1975). Identification en temps réel des systèmes échantillonnés linéaires variants. (Rapport technique n° EP-R-75-05). Disponible