Adrian S. Dafinei, Ion Munteanu et Adrian Dafinei
Communication écrite (2002)
Un lien externe est disponible pour ce document| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
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| ISBN: | 0780374401 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/75610/ |
| Nom de la conférence: | International Semiconductor Conference (SMICND 2002) |
| Lieu de la conférence: | Sinaia, Romania |
| Date(s) de la conférence: | 2002-10-08 - 2002-10-12 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/smicnd.2002.1105878 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/smicnd.2002.1105878 |
| Date du dépôt: | 05 mai 2026 16:27 |
| Dernière modification: | 05 mai 2026 16:27 |
| Citer en APA 7: | Dafinei, A. S., Munteanu, I., & Dafinei, A. (octobre 2002). About the determination of the shunt resistance of the metal/porous silicon/p-silicon structures [Communication écrite]. International Semiconductor Conference (SMICND 2002), Sinaia, Romania. https://doi.org/10.1109/smicnd.2002.1105878 |
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