<  Retour au portail Polytechnique Montréal

About the determination of the shunt resistance of the metal/porous silicon/p-silicon structures

Adrian S. Dafinei, Ion Munteanu et Adrian Dafinei

Communication écrite (2002)

Un lien externe est disponible pour ce document
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
ISBN: 0780374401
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/75610/
Nom de la conférence: International Semiconductor Conference (SMICND 2002)
Lieu de la conférence: Sinaia, Romania
Date(s) de la conférence: 2002-10-08 - 2002-10-12
Maison d'édition: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/smicnd.2002.1105878
URL officielle: https://doi.org/10.1109/smicnd.2002.1105878
Date du dépôt: 05 mai 2026 16:27
Dernière modification: 05 mai 2026 16:27
Citer en APA 7: Dafinei, A. S., Munteanu, I., & Dafinei, A. (octobre 2002). About the determination of the shunt resistance of the metal/porous silicon/p-silicon structures [Communication écrite]. International Semiconductor Conference (SMICND 2002), Sinaia, Romania. https://doi.org/10.1109/smicnd.2002.1105878

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document