Venkatapathi Naidu Rayapati et Dinkar Mukhedkar
Communication écrite (1990)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/75597/ |
| Nom de la conférence: | International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1990) |
| Lieu de la conférence: | New Orleans, LA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1990-05-01 - 1990-05-03 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/iscas.1990.112475 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iscas.1990.112475 |
| Date du dépôt: | 13 avr. 2026 14:49 |
| Dernière modification: | 13 avr. 2026 14:49 |
| Citer en APA 7: | Rayapati, V. N., & Mukhedkar, D. (mai 1990). Reed-Solomon codes based novel signature analysis technique for VLSI random access memory testing [Communication écrite]. International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1990), New Orleans, LA, USA. https://doi.org/10.1109/iscas.1990.112475 |
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