Pierre-Emmanuel Gaillardon, Davide Sacchetto, Giovanni Betti Beneventi, M. Haykel Ben Jamaa, Luca Perniola, Fabien Clermidy, Ian O'Connor, Giovanni De Micheli
Article de revue (2012)
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Mots clés
Département:
Organismes subventionnaires:
French National Research Agency, European Research Council
Numéro de subvention:
ANR-08-SEGI-12, ERC-2009-AdG246810
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Nanotechnology
(
vol.
12
,
no
1
)
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:75308
ORCID
Date du dépôt:
04 août 2026 12:23
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:36
Citer en APA 7:
Gaillardon, P.-E., Sacchetto, D., Betti Beneventi, G., Ben Jamaa, M. H., Perniola, L., Clermidy, F., O'Connor, I., & De Micheli, G. (2012). Design and Architectural Assessment of 3-D Resistive Memory Technologies in FPGAs. IEEE Transactions on Nanotechnology, 12(1), 40-50. https://doi.org/10.1109/tnano.2012.2226747
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