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Device line characterization of Gunn diodes using six-port techniques

Fadhel Ghannouchi et Rénato Bosisio

Communication écrite (1993)

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Département: Département de génie électrique
ISBN: 0780312295
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/75145/
Nom de la conférence: Instrumentation and Measurement Technology Conference 1993
Lieu de la conférence: Irvine, CA, USA
Date(s) de la conférence: 1993-05-18 - 1993-05-20
Maison d'édition: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/imtc.1993.382627
URL officielle: https://doi.org/10.1109/imtc.1993.382627
Date du dépôt: 30 mars 2026 12:06
Dernière modification: 30 mars 2026 12:06
Citer en APA 7: Ghannouchi, F., & Bosisio, R. (mai 1993). Device line characterization of Gunn diodes using six-port techniques [Communication écrite]. Instrumentation and Measurement Technology Conference 1993, Irvine, CA, USA. https://doi.org/10.1109/imtc.1993.382627

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